첨단ICT융합대학지능형반도체공학과4단계 BK21 구성원

이하영Hayoung Lee
- 소속 지능형반도체공학과 / 4단계 BK21 구성원
- 연구실산학협력원 434호
- 이메일 hyleee@ajou.ac.kr
- 내선번호2530
관심분야
- 디지털시스템설계/SoC테스트
학력
- 2023.08 연세대학교 박사
- 2016.02 연세대학교 학사
경력
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연구분야
Design & Test & Repair for PiM Design & Test & Repair for AI Accelerator Design & Test for SoC Test & Repair for HBM
대표논문
- [논문] 이하영(제1), 이주용, 강성호*, An Efficient Test Architecture Using Hybrid Built-In Self-Test for Processing-In-Memory, IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, Vol.33, No.5, pp. 1452-1456 (05월, 2025)
- [논문] 이하영(제1), 이주용, 강성호*, A Robust Test Architecture for Low-Power AI Accelerators, IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, Vol.44, No.4, pp. 1581-1594 (04월, 2025)
- [논문] 이하영(제1), 박종호, 강성호*, An Area-Efficient Systolic Array Redundancy Architecture for Reliable AI Accelerator, IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, Vol.32, No.10, pp. 1950-1954 (10월, 2024)
- [논문] 이하영(제1), 김지혜, 박종호, 강성호*, STRAIT: Self-Test and Self-Recovery for AI Accelerator, IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, Vol.42, No.9, pp. 3092-3104 (09월, 2023)
- [논문] 이하영(제1), 신승호, 유연우, 강성호*, TRUST: Through-Silicon Via Repair Using Switch Matrix Topology, IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, Vol.42, No.7, pp. 2377-2390 (07월, 2023)
연구활동
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- [논문] 황윤제(제1), 강영훈, 이하영*, DPR-PIM: Diagnosis and Pipelined Repair Architecture for Processing-in-Memory, IEEE TRANSACTIONS ON VERY LARGE SCALE INTEGRATION (VLSI) SYSTEMS, Vol.34, No.5, pp. 1567-1580 (5월, 2026)
- [논문] 이수령(제1), 이주용, 이하영, 강성호*, VASE: Vector Memory using Bit-Level Address Segmentation for High-Speed Memory Testing, IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS I-REGULAR PAPERS, Vol.73, No.1, pp. 334-346 (1월, 2026)
- [논문] 윤효준(제1), 임현찬, 이하영, 강성호*, Multistage Enhanced Diagnosis With Fault Candidate Reduction, IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTER-AIDED DESIGN OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS, Vol.44, No.9, pp. 3648-3652 (9월, 2025)
특허 및 기타
- [특허] 이하영, 수리 가능성 기반 메모리 고장 정보 전송 장치 및 방법, 특허, (출원) (19/737,448) (7월, 2026)
- [특허] 이하영, 연산 데이터 압축 및 압축 해제가 가능한 프로세싱인 메모리 장치, 이를 포함하는 인공지능 추론 시스템 및 이에서의 연산 방법, 특허, (출원) (PCT/KR2026/007141) (6월, 2026)
- [특허] 황윤제, 이하영, 지수 필드 내장형 오류정정코드를 이용한 메모리 내 연산 장치 및 그 동작 방법, 특허, (출원) (10-2026-0115623) (6월, 2026)
